| Yazarlar (3) |
Prof. Dr. Hüseyin ERTAP
Kafkas Üniversitesi, Türkiye |
Yunus Alkan
Türkiye |
|
Mevlüt Karabulut
Gebze Teknik Üniversitesi, Türkiye |
| Özet |
| Modifiye Kimyasal Banyo Depolama (M-CBD) yöntemi ile cam ve Galyum Selenit (GaSe) tek kristal alt tabanlar üzerinde büyütülen GaSe ince filmlerinin yapısal, morfolojik ve optik özellikleri XRD, AFM ve UV-Vis teknikleri ile araştırıldı. XRD ölçümleri cam ve GaSe tek kristal alt tabanlar üzerinde büyütülen GaSe ince filmlerinin sırasıyla rombohedral ve hekzagonal yapıda olduğunu gösterdi. AFM görüntülerinden cam ve GaSe tek kristal alt tabanlar üzerinde büyütülen GaSe ince filmlerinin ortalama parçacık boyutlarının sırasıyla 33.2 nm ve 35.3 nm olduğu hesaplandı. Ayrıca, cam ve GaSe tek kristal alt tabanlar üzerinde büyütülerek tavlanan GaSe ince filmlerinin ortalama parçacık boyutları tavlamayla artarken yasak enerji aralıkları ise tavlama ile azalmaktadır. Cam alt tabanlar üzerinde büyütülen GaSe ince filmlerinin Urbach enerjilerinin GaSe tek kristal alt tabanlar üzerinde büyütülen GaSe ince filmlerinin Urbach enerjilerinden daha büyük olduğu bulundu. |
| Anahtar Kelimeler |
| Makale Türü | Özgün Makale |
| Makale Alt Türü | Ulusal alan endekslerinde (TR Dizin, ULAKBİM) yayımlanan tam makale |
| Dergi Adı | Journal of the Institute of Science and Technology |
| Dergi ISSN | 2146-0574 |
| Dergi Tarandığı Indeksler | TR DİZİN |
| Makale Dili | Türkçe |
| Basım Tarihi | 03-2019 |
| Cilt No | 9 |
| Sayı | 1 |
| Sayfalar | 11 / 19 |
| Doi Numarası | 10.21597/jist.440288 |
| Makale Linki | http://dergipark.gov.tr/doi/10.21597/jist.440288 |
| Atıf Sayıları | |
| Google Scholar | 2 |
