Application of QMSA Method for Al0.3Ga0.7N/GaN HEMT Structure
   
Yazarlar (4)
Ahmet Kürşat Bilgili
Gazi Üniversitesi, Türkiye
Ömer Akpınar
Gazi Üniversitesi, Türkiye
Dr. Öğr. Üyesi Naki KAYA Kafkas Üniversitesi, Türkiye
Mustafakemal Öztürk
Gazi Üniversitesi, Türkiye
Makale Türü Açık Erişim Özgün Makale (Ulusal alan endekslerinde (TR Dizin, ULAKBİM) yayınlanan tam makale)
Dergi Adı Karadeniz Fen Bilimleri Dergisi
Dergi ISSN 2564-7377
Dergi Tarandığı Indeksler TR DİZİN
Makale Dili İngilizce Basım Tarihi 12-2023
Cilt / Sayı / Sayfa 13 / 4 / 1377–1385 DOI 10.31466/kfbd.1276114
Makale Linki https://dergipark.org.tr/tr/pub/kfbd/issue/81367
Özet
Bu çalışmada, Al0.3Ga0.7N/GaN yüksek elektron mobiliteli transistör (HEMT) yapısı, metal-organik buhar fazlı epitaksi (MOVPE) kullanılarak safir (Al2O3) bir alttaş üzerinde büyütülmüş, elektron taşıma ve manyetik taşıma özellikleri incelenmiştir. Özdirenç 20-350 K sıcaklık aralığında ölçülmüştür. Hall hareketliliği ve Hall taşıyıcı konsantrasyonu, 0-1,5 T manyetik alan aralığında ve aynı sıcaklık aralığında ölçülmüştür. Manyetik taşıma özellikleri, kantitatif hareketlilik spektrum analizi (QMSA) kullanılarak analiz edilmiştir. 2DEG ve 3DEG taşıma mekanizmaları QMSA sonuçları ile birbirinden ayrılmıştır.
Anahtar Kelimeler
GaN | HEMT | AlGaN | QMSA | Hall | Mobilite