img
img
Determination of stress from HR-XRD and Raman for GaN/AlInN/AlN/Sapphire HEMTs  
Yazarlar (6)
Özlem Bayal
Ahmet Kürşat Bilgili
Mustafakemal Öztürk
Gazi Üniversitesi, Türkiye
Yunus Özen
Türkiye
Dr. Öğr. Üyesi Naki KAYA Dr. Öğr. Üyesi Naki KAYA
Kafkas Üniversitesi, Türkiye
Erkan Hekin
Devamını Göster
Makale Türü Özgün Makale
Makale Alt Türü Ulusal alan endekslerinde (TR Dizin, ULAKBİM) yayımlanan tam makale
Dergi Adı Gazi University Journal of Science PART A: ENGINEERING AND INNOVATION
Dergi ISSN 2147-9542
Dergi Tarandığı Indeksler TR DİZİN
Makale Dili İngilizce
Basım Tarihi 03-2025
Doi Numarası 10.54287/gujsa.1636694
BM Sürdürülebilir Kalkınma Amaçları
Atıf Sayıları
Determination of stress from HR-XRD and Raman for GaN/AlInN/AlN/Sapphire HEMTs

Paylaş